[发明专利]一种结构检测系统有效
| 申请号： | 201910039089.5 | 申请日： | 2019-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN110006379B | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 陈文波 | 申请（专利权）人： | 苏州罗伊艾米精密工业有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00;G01B21/20 |
| 代理公司： | 苏州三英知识产权代理有限公司 32412 | 代理人： | 朱如松 |
| 地址： | 215121 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开的结构检测系统，至少包括探测系统、架构系统以及控制系统，其中探测系统，至少包括探测头，用于对待检测工件采集坐标点数据；和架构系统，至少包括工件平台以及位置调节系统；位置调节系统，至少用于在位置控制指令的控制下，控制位置调节系统驱动工作平台上的待检测工件按照预设轨迹发生位移。本发明使得探测头在对复杂结构，特别是复杂内腔结构进行检测时，能够实现直接一次测量，而无需采用多次退回选择探测角度和方向以增加探测深度的形式，提高了探测的效率和探测的精度，并且降低了系统数据处理难度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 结构 检测 系统 | ||
【主权项】：
1.一种结构检测系统，至少包括探测系统、架构系统以及控制系统，其中探测系统，至少包括探测头，用于对待检测工件采集坐标点数据；和架构系统，至少包括工件平台以及位置调节系统；工件平台，用于限制待检测工件，并在位置调节系统的驱动下，使待检测工件的待探测表面相对于探测头发生位移；位置调节系统，至少用于在位置控制指令的控制下，控制位置调节系统驱动工作平台上的待检测工件按照预设轨迹发生位移；和控制系统，至少用于接收探测系统反馈的坐标点数据并计算获得待检测工件的几何结构参数和/或用于发出位置控制指令使待检测工件按照预设轨迹发生位移。
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