[发明专利]一种换相开关的继电器闭环自校核方法

摘要

本发明公开了一种换相开关的继电器闭环自校核方法，包括MCU检测切除原有相序的电流过零时刻以及投入新相序的电压过零时刻，在切除原有相序时，计算继电器切除原相序的时刻，记录MCU向GPIO发送切除请求操作的时刻，以及记录MCU接收到继电器发送的切除反馈信号的时刻，计算继电器实际切除相序时间，并将继电器实际切除相序时间赋值给继电器切除相序的时间参数；在投入新相序时，计算继电器投入新相序的时刻，记录MCU向GPIO发送投入请求操作的时刻，以及记录MCU接收到继电器发送的投入反馈信号的时刻，计算继电器实际投入相序时间，并将继电器实际投入相序时间赋值给继电器投入相序的时间参数。该方法能够对继电器的每次动作进行动作时间校核，保证换相开关的过零点投切。

主权项

1.一种换相开关的继电器闭环自校核方法，其特征在于，包括如下步骤：S1：所述MCU接收外部装置发送的相序切换命令，进行切换准备；S2：所述MCU根据电流有效值I以及当前电流瞬时值i计算下次切除原相序的电流过零时刻T_i，所述MCU根据电压有效值U以及当前电压瞬时值u计算下次投入新相序的电压过零时刻T_U；S3：判断T_U是否大于等于T_i，如否，则T_U延迟半个周波后进入步骤S4，如是，则进入步骤S4；S4：计算所述继电器切除原相序的时间T_Q，T_Q＝T_i‑T_QC；S5：记录所述MCU向GPIO发送切除请求操作的时刻T₁，以及记录所述MCU接收到所述继电器发送的切除反馈信号的时刻T₂，计算所述继电器实际切除相序时间T’_QC，T’_QC＝T₂‑T₁，并将T’_QC赋值给T_QC；S6：计算所述继电器投入新相序的时间T_T，T_T＝T_U‑T_TC；S7：记录所述MCU向所述GPIO发送投入请求操作的时刻T₃，以及记录所述MCU接收到所述继电器发送的投入反馈信号的时刻T₄，计算所述继电器实际投入相序的时间T’_TC，T’_TC＝T₄‑T₃，并将T’_TC赋值给T_TC；其中，T_QC为所述继电器切除相序的时间参数，T_TC为所述继电器投入相序的时间参数。