[发明专利]一种采样点位置的测定方法及系统有效

专利信息
申请号: 201910020238.3 申请日: 2019-01-09
公开(公告)号: CN109743228B 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 袁裕华;贾小月;全新妍;王藩 申请(专利权)人: 上海科世达-华阳汽车电器有限公司;科世达(上海)管理有限公司
主分类号: H04L43/022 分类号: H04L43/022;H04L43/0823;H04L12/40
代理公司: 北京信远达知识产权代理有限公司 11304 代理人: 魏晓波
地址: 201814 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种采样点位置的测定方法,应用于CAN总线或CAN FD总线,包括在被测节点的被干扰帧的帧间隙域设定被干扰位;沿预设干扰方向逐步增加所述被干扰位的显性电平长度,直至总线产生错误帧;当所述总线产生错误帧时,读取当前干扰参数并根据所述当前干扰参数计算得到所述被测节点的采样点位置。该测定方法可有效提高采样点位置测定的准确度,保障产品开发过程中采样点位置设计的准确性与稳定性。本发明还公开了一种采样点位置的测定系统以及计算机可读存储介质,均具有上述有益效果。
搜索关键词: 一种 采样 位置 测定 方法 系统
【主权项】:
1.一种采样点位置的测定方法,其特征在于,应用于CAN总线或CAN FD总线,包括:在被测节点的被干扰帧的帧间隙域设定被干扰位;沿预设干扰方向逐步增加所述被干扰位的显性电平长度,直至总线产生错误帧;当所述总线产生错误帧时,读取当前干扰参数并根据所述当前干扰参数计算得到所述被测节点的采样点位置。
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