[发明专利]一种同轴度检测方法在审

专利信息
申请号: 201910015977.3 申请日: 2019-01-08
公开(公告)号: CN109696146A 公开(公告)日: 2019-04-30
发明(设计)人: 任雪堂;洪婧;叶海鹏;吴洪联 申请(专利权)人: 杭州大和热磁电子有限公司
主分类号: G01B21/24 分类号: G01B21/24
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人: 尉伟敏;汪利胜
地址: 310053 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种同轴度检测方法,旨在解决工件同轴度检测繁琐、检测结果不准确的不足。第一步,将检测工件安装在三坐标测量仪工作台上;第二步,在待测孔或轴上确定四个水平面,三坐标测量仪的测量触头在每个平面位置移动与待测孔或轴进行接触测量,测出的接触点三坐标数据传递到计算机,每个平面上测量触头对待测孔或轴接触测量点至少三个;第三步,计算机对测出的接触点三坐标数据进行模拟,每一个平面对应测得的数据模拟形成一个圆,上方的两个圆模拟形成一个圆柱,下方的两个圆模拟形成另一个圆柱;第四步,模拟出两圆柱的轴线,将两轴线垂直投影到一圆柱端面上,形成两个点,两点之间的距离为被测工件孔或轴的同轴度。
搜索关键词: 同轴度检测 测孔 测量触头 接触测量 接触点 三坐标 三坐标测量仪 三坐标测量 被测工件 检测工件 检测结果 平面位置 数据传递 数据模拟 轴线垂直 计算机 同轴度 圆柱端 投影 移动
【主权项】:
1.一种同轴度检测方法,其特征是,第一步,将检测工件安装在三坐标测量仪工作台上,工件上待检测的孔或轴竖直设置;第二步,在待测孔或轴一半长度以上位置确定两个水平面,在待测孔或轴一半长度以下位置确定两个水平面,三坐标测量仪的测量触头在每个平面位置移动与待测孔或轴进行接触测量,测出的接触点三坐标数据传递到计算机,每个平面上测量触头对待测孔或轴接触测量点至少三个;第三步,计算机对测出的接触点三坐标数据进行模拟,每一个平面对应测得的数据模拟形成一个圆,待测孔或轴一半长度以上位置形成的两个圆模拟形成一个圆柱,待测孔或轴一半长度以下位置形成的两个圆模拟形成另一个圆柱;第四步,模拟出两圆柱的轴线,将两轴线垂直投影到同一基准面上,形成两个点,两点之间的距离为被测工件孔或轴的同轴度。
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