[发明专利]一种InGaAs短波红外成像仪的十字盲元检测及校正装置和方法有效

专利信息
申请号: 201910011915.5 申请日: 2019-01-07
公开(公告)号: CN109738072B 公开(公告)日: 2019-12-10
发明(设计)人: 李永富;费宬;刘俊良;郭进;康佳龙 申请(专利权)人: 山东大学
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 37236 青岛致嘉知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 李浩成
地址: 250000 *** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明请求保护一种InGaAs短波红外成像仪的十字盲元检测及校正装置和方法,包括短波红外标准辐射源、InGaAs短波红外成像仪、上位机检测分析系统及上位机成像校正系统;上位机检测分析系统采集传至上位机的校正用图像数据,上位机成像校正系统采集传至上位机的原始图像数据。本发明提出的方法主要针对十字盲元进行检测和处理,相比于常规校正处理方法,对于十字盲元的处理效果更好,InGaAs短波红外成像仪进行一次校正参数运算后,每次成像调用参数即可对图像校正,无需重新计算校正参数;针对短波红外成像仪利用景物反射光成像的特点,短波红外标准辐射源选用积分球,出光更为均匀,受温度影响小。
搜索关键词: 短波红外成像 上位机 红外标准辐射源 成像校正 检测分析 系统采集 校正参数 短波 位机 原始图像数据 调用参数 景物反射 盲元检测 图像数据 图像校正 温度影响 校正处理 校正装置 重新计算 光成像 积分球 校正 成像 运算 检测
【主权项】:
1.一种InGaAs短波红外成像仪的十字盲元检测及校正装置,其特征在于,包括:/n短波红外标准辐射源、InGaAs短波红外成像仪、上位机检测分析系统及上位机成像校正系统;/n所述短波红外标准辐射源作为校正光源,提供校正用的短波红外光;/n所述InGaAs短波红外成像仪与上位机相连,接收光信号并将其转换为数据,最终传至上位机;/n所述上位机检测分析系统与InGaAs短波红外成像仪相连,采集传至上位机的校正用图像数据,分析计算非均匀校正、盲元补偿、中值滤波和灰度限幅拉伸要用的参数,然后将其保存至InGaAs短波红外成像仪的FLASH存储单元;/n所述上位机成像校正系统也与InGaAs短波红外成像仪相连,采集传至上位机的原始图像数据,读取校正用的参数,对原始图像数据进行校正处理;/n所述短波红外标准辐射源为带短波红外光源的积分球,积分球是一个内壁涂有漫反射材料的空腔球体,能够将光源发出的光线通过漫反射变为均匀的光,保证入射到InGaAs短波红外成像仪的光线是均匀的,相对于黑体来说其发热量小,光线更为均匀;/n所述InGaAs短波红外成像仪为基于面阵InGaAs短波红外焦平面探测器的面阵凝视型短波红外成像仪,响应波长范围0.9μm-1.7μm,检测分析时接收短波红外标准辐射源发出的光信号并转换为电信号,最终输出校正用图像数据至上位机;/n成像校正时接收景物反射短波红外光转换为电信号,最终输出原始图像数据至上位机;/n所述上位机检测分析系统包括校正用数据采集模块、参数计算模块及参数存储模块;/n所述校正用数据采集模块采集InGaAs短波红外成像仪传至上位机的校正用图像数据并缓存,为下一步参数计算做好准备;/n所述参数计算模块读入缓存在校正用数据采集模块的校正用图像数据,分别计算盲元补偿、非均匀校正、中值滤波和灰度限幅拉伸所用的参数;/n所述参数存储模块将焦平面像元的总行数和总列数
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