[发明专利]微机械或纳米机械颗粒检测设备在审

专利信息
申请号: 201910003107.4 申请日: 2019-01-02
公开(公告)号: CN109994364A 公开(公告)日: 2019-07-09
发明(设计)人: 塞巴斯蒂安·海恩茨;马克·桑萨·佩纳 申请(专利权)人: 原子能和替代能源委员会
主分类号: H01J49/04 分类号: H01J49/04;H01J49/26
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 孟媛;姚开丽
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 公开了微机械或纳米机械颗粒检测设备。颗粒检测设备包括:支撑件;用于接收颗粒的平台(4);四个梁(12.1,12.2,12.3,12.4),所述四个梁将平台(4)悬挂在支撑件(2)上,使得平台(4)能够振动;用于使所述平台(4)以共振频率振动的装置(8);用于检测平台(4)在位移方向上的位移的检测装置(10)。每个梁(12.1,12.2,12.3,12.4)具有长度l、宽度L和厚度e,并且平台(4)具有在平台的位移方向上的尺寸,并且其中,在设备具有平面外模式时l≥10×L,并且,每个梁在平台(4)的位移方向上的尺寸比平台(4)在位移方向上的尺寸小至少10倍。
搜索关键词: 颗粒检测设备 纳米机械 微机械 支撑件 共振频率 检测装置 尺寸比 悬挂 检测
【主权项】:
1.颗粒检测设备,包括支撑件和能相对于所述支撑件(2)移动的至少一个可移动结构,所述可移动结构包括:平台(4),所述平台的一个面至少用于接收待检测的颗粒;悬挂装置(6),所述悬挂装置用于悬挂所述平台(4),使得所述平台(4)能够相对于所述支撑件(2)振动;致动装置(8),所述致动装置用于使所述平台(4)以所述平台的共振频率中的至少一个共振频率振动;检测装置(10),所述检测装置用于检测所述平台(4)在给定方向上的位移;所述悬挂装置(6)包括至少两个梁(12.1,12.2,12.3,12.4),所述至少两个梁构造成在所述平台(4)振动时变形,其中,每个梁(12.1,12.2,12.3,12.4)具有长度l、宽度L和厚度e,所述平台(4)具有在所述平台的位移方向上的尺寸,其中:‑每个梁在所述平台(4)的给定的位移方向上的尺寸比所述平台(4)在所述给定的位移方向上的尺寸小至少10倍,以及‑在所述检测设备具有平面内模式的情况下,l≥10×L,并且在所述检测设备具有平面外模式的情况下,l≥10×e,使得在所述平台(44)振动时,所述平台不会由于所述梁的作用而变形或变形很小。
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