[发明专利]飞针测试机测试方法、装置、飞针测试机及存储介质有效
| 申请号： | 201910002117.6 | 申请日： | 2019-01-02 |
| 公开（公告）号： | CN109738789B | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 欧阳云轩;王星;翟学涛;杨朝辉;高云峰 | 申请（专利权）人： | 深圳市大族数控科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 何锋 |
| 地址： | 518101 广东省深圳市宝安区沙井街道新沙路*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种飞针测试机测试方法，包括以下步骤：接收对PCB板进行测试的测试指令，所述PCB板上包括多个子PCB板，所述PCB板放置在飞针测试机的测试区域；响应所述测试指令，根据所述PCB板中子PCB板的排布信息将所述PCB板划分为多个子区域，其中，所述子区域包括至少两个子PCB板；以子区域作为一个对位单位，确定各个所述子区域中的子PCB板对应的对位点位置信息；根据当前子PCB板的对位点位置信息对所述当前子PCB板进行对位，根据对位结果对所述当前子PCB板进行测试，采用本发明实施例提供的方法，对PCB板进行测试时，测试精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种飞针测试机测试方法，其特征在于，包括以下步骤：接收对PCB板进行测试的测试指令，所述PCB板上包括多个子PCB板，所述PCB板放置在飞针测试机的测试区域；响应所述测试指令，根据所述PCB板中子PCB板的排布信息将所述PCB板划分为多个子区域，其中，所述子区域包括至少两个子PCB板；以子区域作为一个对位单位，确定各个所述子区域中的子PCB板对应的对位点位置信息；根据当前子PCB板的对位点位置信息对所述当前子PCB板进行对位，根据对位结果对所述当前子PCB板进行测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市大族数控科技股份有限公司，未经深圳市大族数控科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910002117.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
