[发明专利]基于两个基线测量仪验证来检测振动测量仪中的变化在审
| 申请号： | 201880096588.1 | 申请日： | 2018-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN112534215A | 公开（公告）日： | 2021-03-19 |
| 发明（设计）人： | C·B·麦卡纳利;B·J·道宁 | 申请（专利权）人： | 高准公司 |
| 主分类号： | G01F1/84 | 分类号： | G01F1/84;G01F25/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 危凯权;万欣 |
| 地址： | 美国科*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种用于基于两个或更多个基线测量仪验证来检测振动测量仪(5)中变化的测量仪电子器件(20)。测量仪电子器件(20)包括配置成从测量仪组件(10)接收传感器信号(100)且基于传感器信号(100)来提供信息的接口(201)，以及通信地耦合到接口(201)的处理系统(202)，所述处理系统(202)配置成使用该信息来确定在第一组处理状况下的第一基线测量仪验证值，确定在第二组处理状况下的第二基线测量仪验证值，以及基于第一基线测量仪验证值和第二基线测量仪验证值来确定基线测量仪验证值。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 两个 基线 测量仪 验证 检测 振动 中的 变化 | ||
【主权项】：
暂无信息
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