[发明专利]分光分析装置在审

专利信息
申请号: 201880096585.8 申请日: 2018-09-28
公开(公告)号: CN112601482A 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 金子翔一;佐藤亮;太田周志 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: A61B1/00 分类号: A61B1/00;A61B10/00;G01M11/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 于英慧;崔成哲
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 分光分析装置(1)具有:光学探针(2);以及分光分析部(3),该光学探针(2)通过连接器(6)可装卸地安装于该分光分析部(3),光学探针(2)具有:光纤(4),其引导来自光源(10)的照明光和来自观察对象的信号光;以及光学部件(7),其配置在光纤(4)的至少前端,分光分析部(3)对信号光进行分光而生成波长特性,并且具有:信息分离部(14),其从信号光的信息中分离出从光学部件(7)返回的第1返回光和从光纤(4)返回的第2返回光的信息;不良情况判定部(14),其根据分离出的第1返回光和第2返回光,判定在光学探针(2)中产生的不良情况;以及通知部(15),其通知判定出的不良情况的信息。
搜索关键词: 分光 分析 装置
【主权项】:
暂无信息
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