[发明专利]非破坏测定装置在审
| 申请号： | 201880095412.4 | 申请日： | 2018-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN112351735A | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 木暮一也 | 申请（专利权）人： | 桐生电子开发有限责任公司 |
| 主分类号： | A61B5/1455 | 分类号： | A61B5/1455 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 何志欣 |
| 地址： | 日本群马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开用光来高精度测定随时间变化的物质的随时间上升、下降量和相对于时间的变化量并显示该结果的装置。向包含被测定物质的试样照射至少两个光源的光，用至少一个光源的光来测定相对于被测定物质以外的成分的变动，用用于测定被测定物质的光来测定被测定物质的变动。为了高精度测定被测定物质的变化量，将被测定物质以外的变动量作为校正值。另外，测定在一定时间进行3次，计算第1次的测定值与第3次的测定值的差分，运算第1次与第2次的测定值的差分的时间微分值，将第1次与第3次的测定值的差分值和第1次与第2次的测定值的时间微分值作为最终结果。 | ||
| 搜索关键词： | 破坏 测定 装置 | ||
【主权项】：
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