[发明专利]晶体判定方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 201880094853.2 | 申请日： | 2018-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN112292814A | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | 胡睿;余成志 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H03B5/32 | 分类号： | H03B5/32 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 朱颖;刘芳 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种晶体判定方法、装置及存储介质，其中，该方法包括：获取晶体在预设温度段的至少三个温度值，以及每个温度值对应的测试频偏值，根据该至少三个温度值以及每个温度值对应的测试频偏值，确定晶体在预设温度段时晶体对应频偏曲线的拟合一次项系数值和拟合常数项值，根据得到的拟合一次项系数值和拟合常数项值，判定该晶体是否合格。该方法的判定结果准确度高，可靠性高，避免了不合格晶体无法被发现的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体 判定 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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