[发明专利]使用多次遍历对齐介质有效
| 申请号： | 201880092832.7 | 申请日： | 2018-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN112004685B | 公开（公告）日： | 2022-06-10 |
| 发明（设计）人： | J·M·昆塔纳;J·S·贡德特 | 申请（专利权）人： | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
| 主分类号： | B41J13/10 | 分类号： | B41J13/10;B41J29/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张凌苗;吕传奇 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于对齐介质的装置示例。该装置包括用于在介质的第一面形成标记的打印机组装件。该装置还包括用于在多个位置检测每次遍历上的背面图案的传感器。该装置包括与传感器进行通信的处理器。处理器用于比较多次遍历上测量的背面图案，以确定偏移量。该装置还包括控制器，用于基于偏移值相对于打印机组装件调整介质。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 多次 遍历 对齐 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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