[发明专利]采用时间相关的单光子计数的荧光寿命-显微-方法

摘要

本发明涉及一种采用时间相关的单光子计数的荧光寿命‑显微方法，其中，借助脉冲式光源(2)利用激发光脉冲周期性地激发样本(13)发出荧光光子，其中，在每两个相继的激发光脉冲之间确定测量区间，借助探测器(16)检测所述荧光光子，并且产生表示所检测的荧光光子的探测信号(17)，基于所述探测信号(17)来确定探测时间，对于所述探测时间，在相应的测量区间内由所述探测器(16)探测所述荧光光子，基于所述探测时间进行成像。为了在避免堆积‑效应的情况下以比较小的技术代价提高激发光强度，并且为了广泛地使用各种类型的探测器和电子机构，在所述荧光寿命‑显微方法中，在相应的测量区间内确定是否在所述测量区间内已检测到了预定数量的荧光光子。把所有检测到的光子的探测时间都汇总在对于多个图像像素而言共同的第一数据存储器中。仅把已在相应的测量区间内以预定数量检测到的荧光光子的探测时间汇总在对于所述多个图像像素而言共同的第二数据存储器中。在计算步骤中把汇总在所述第一数据存储器中的探测时间与汇总在所述第二数据存储器中的探测时间组合起来。把所述计算步骤的结果存储在第三数据存储器中。本发明还涉及一种用来实施这种荧光寿命‑显微方法的显微镜。