[发明专利]恢复辐射检测器的方法在审
| 申请号： | 201880086362.3 | 申请日： | 2018-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN111587389A | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 曹培炎;刘雨润 | 申请（专利权）人： | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518071 广东省深圳市南山区桃源街道塘朗*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种恢复辐射检测器的性能的方法，辐射检测器(110)包括：辐射吸收层(110)，配置成吸收入射到其上的辐射粒子，并且基于辐射粒子来生成电信号；电子系统(120)，配置成处理电信号，电子系统(120)包括晶体管，晶体管包括栅绝缘体(218)，其中因栅绝缘体(218)对辐射的暴露而累积正载流子；该方法包括通过建立跨栅绝缘体(218)的电场从栅绝缘体(218)中去除正载流子。 | ||
| 搜索关键词： | 恢复 辐射 检测器 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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