[发明专利]荧光测定装置及荧光测定方法有效
| 申请号： | 201880085110.9 | 申请日： | 2018-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN111542749B | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | 山内丰彦;山田秀直 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/45 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 荧光测定装置(1A)具备取得包含对象物的荧光图像的荧光图像取得部(3)、取得包含对象物的干涉图像的干涉图像取得部(2)及运算部(4)。运算部(4)基于由干涉图像取得部取得的干涉图像，求出光学厚度图像，在共同地设定于由荧光图像取得部取得的荧光图像及光学厚度图像的双方的关注区域中，基于荧光图像的荧光强度的积分值和光学厚度图像的光学厚度的积分值，求出对象物的荧光表达率。由此，可实现能够正确地求出关注区域内的对象物的荧光表达率的荧光测定装置及荧光测定方法。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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