[发明专利]用于感测测量气体室中的测量气体的颗粒的方法和用于感测测量气体室中的测量气体的颗粒的传感器组件在审
| 申请号： | 201880082874.2 | 申请日： | 2018-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN111527394A | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | M·克伦克 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06;F02D41/14;F02D41/22;G01N15/00;G01N33/00;G01R31/52;G01R31/28 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 侯鸣慧 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提出一种用于感测测量气体室中的测量气体的颗粒的方法，其中，使用至少一个传感器元件(110)。传感器元件(110)包括至少一个电极结构(112)，其中，所述电极结构(112)具有至少两个电极装置(114)。所述方法包括下列步骤：a)所述传感器元件(110)在至少一个测量模式中运行，包括：i.对所述电极结构(112)加载以至少一个测量电压；和ii.感测在所述电极结构(112)上的至少一个测量信号、尤其是量化在所述电极装置(114)之间的测量电流的测量信号，其中，所述测量信号能够通过所述颗粒影响，和b)所述传感器元件(110)在至少一个诊断模式中运行，包括：i.对所述电极结构(112)加载以至少一个诊断电压，其中，所述诊断电压小于所述测量电压；ii.感测在所述电极结构(112)上的至少一个诊断信号、尤其是量化在所述电极装置(114)之间的诊断电流的诊断信号；和iii.通过比较所述诊断信号与至少两个诊断阈值来分析处理所述诊断信号并且产生关于所述传感器元件(110)的故障状态的至少一个信息。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测测 气体 中的 测量 颗粒 方法 传感器 组件 | ||
【主权项】：
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