[发明专利]用于确定至少一项几何信息的测距仪在审
| 申请号： | 201880055379.2 | 申请日： | 2018-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN111033300A | 公开（公告）日： | 2020-04-17 |
| 发明（设计）人： | P·辛德勒;P·希伦;M·埃伯斯帕奇;C·伦纳茨;R·森德;I·布鲁德 | 申请（专利权）人： | 特里纳米克斯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/48 | 分类号： | G01S7/48;G01S17/46 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 杨晓光;于静 |
| 地址： | 德国莱茵河*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于确定至少一项几何信息的测距仪提供了用于确定关于至少一个对象(112)的至少一项几何信息的测距仪(110)。测距仪(110)包括：‑至少一个照射源(114)，其适于生成至少一个照射图案(116)，其中，所述照射源(114)适于用所述照射图案(116)在倾斜角度下照射所述对象(112)；‑至少一个光学传感器(118)，其具有至少一个感光区(120)，其中，所述光学传感器(118)被设计为响应于由源自所述对象(112)的至少一个反射图案(124)对其感光区(120)的照射而生成至少一个图像矩阵(122)；‑至少一个评估装置(126)，其被配置为通过在假设所述反射图案(124)中存在至少一个几何构象(128)的情况下评估所述图像矩阵(122)来根据所述反射图案(124)确定关于所述对象(112)的所述几何信息。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 至少 一项 几何 信息 测距仪 | ||
【主权项】：
暂无信息
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