[发明专利]集成电路装置上自动老化测试的系统和方法有效
| 申请号： | 201880055274.7 | 申请日： | 2018-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN111051902B | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | S·L-M·张 | 申请（专利权）人： | 皇虎科技（加拿大）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/20 | 分类号： | G01R31/20;G01R31/302 |
| 代理公司： | 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 | 代理人： | 钱学宇 |
| 地址： | 加拿大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本文描述了用于测试系统的各实施例，该测试系统使用至少一个测试室和测试器在测试温度范围下执行电子装置的老化测试。所述至少一个测试室是无门的并且具有框架，该框架限定用于接收容纳电子装置的至少一个老化板的室开口。该测试器包括：主框架；多个承载盒，其安装到主框架并且容纳该容纳电子装置的至少一个老化板；门板，其在测试器的前端处以允许进入测试器；以及壁板，其设置在与门板相对的表面上。壁板被放置成邻近至少一个测试室的室开口并且固定到至少一个测试室的室开口，以在测试期间提供空气和温度密封。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 装置 自动 老化 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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