[发明专利]分析测试装置在审

专利信息
申请号: 201880049023.8 申请日: 2018-06-13
公开(公告)号: CN110998296A 公开(公告)日: 2020-04-10
发明(设计)人: A·尼寇兰寇;M·罗伯特斯;M·维勒;N·雅寇比-格罗斯 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/93
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 王海宁
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种分析测试装置(12)包括:一个或多个光发射器(13),其配置成发射第一波长范围(Δλa)内的光。该分析测试装置(12)还包括一个或多个第一光检测器(14),每个第一光检测器(14)对第一波长周围的第二波长范围(Δλb)敏感。该分析测试装置(12)还包括一个或多个第二光检测器(15),每个第二光检测器(15)对第二波长周围的第三波长范围(Δλc)敏感,所述第二波长与第一波长不同。该分析测试装置(12)还包括校正模块(16),其配置成接收来自第一和第二光检测器(14,15)的信号(19,20),并基于来自第一和第二光检测器(14,15)的信号(19,20)的权重差异产生校正信号(21)。配置该分析测试装置(12),使得来自光发射器(13)的光经由包括样品接收部分(7)的光路到达第一和第二光检测器(14,15)。
搜索关键词: 分析 测试 装置
【主权项】:
暂无信息
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