[发明专利]使用集成光子器件的空分复用光学相干层析成像技术有效
申请号: | 201880046277.4 | 申请日: | 2018-05-14 |
公开(公告)号: | CN111212592B | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
发明(设计)人: | 周超 | 申请(专利权)人: | 周超 |
主分类号: | A61B3/00 | 分类号: | A61B3/00;A61B3/10;A61B5/00;G01B9/00;G01B9/02 |
代理公司: | 郑州立格知识产权代理有限公司 41126 | 代理人: | 崔卫琴 |
地址: | 450000 河南省郑*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 本发明公开了一种公开了适合空分复用光学相干断层扫描的集成光子芯片、相关系统和方法。在一个实施例中,所述光子芯片包含:一个衬底;一个光输入端口,从外部光源接收入射采样光;多个光输出端口,配置为从芯片向样品发射多条采样光束,以便采集该样品的扫描图像;多个在衬底里的互联的和分支的波导通道。分光器区的波导通道将采样光束分裂成输出端口的多条采样光束。在时间延迟区域,波导通道与每个输出端口相连的终端部分有着不同的预定长度,以便在采样光束之间产生光学时间延迟。在一些实施例中,所述芯片进一步包含了一个干涉仪区,以便产生干涉图案。 | ||
搜索关键词: | 使用 集成 光子 器件 空分复 用光 相干 层析 成像 技术 | ||
【主权项】:
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