[发明专利]颗粒去除设备及相关系统有效

专利信息
申请号: 201880035541.4 申请日: 2018-03-05
公开(公告)号: CN110709776B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: J·范杜文博德;P·J·M·范吉尔斯;P·J·范丹欧弗;C·H·M·巴尔蒂斯 申请(专利权)人: ASML荷兰有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;B08B6/00;H01L21/683
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 董莘
地址: 荷兰维*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于从夹具(4)去除颗粒的设备(16),该设备可布置在夹具附近,并且包括:绝缘部分(18);支撑部分(20),绝缘部分的至少一部分或全部被布置在支撑部分上,其中支撑部分被配置使得当电压被施加到设备的支撑部分和/或夹具的电极(8)时,支撑部分充当电极,以允许在设备与夹具之间生成电场,以用于从夹具去除颗粒。
搜索关键词: 颗粒 去除 设备 相关 系统
【主权项】:
1.一种用于从夹具去除颗粒的设备,所述设备可布置在所述夹具附近并且包括:/n绝缘部分;/n支撑部分,所述绝缘部分的至少一部分或全部被布置在所述支撑部分上,其中所述支撑部分被配置使得:当电压被施加到所述设备的所述支撑部分和/或所述夹具的电极时,所述支撑部分充当电极,以允许在所述设备与所述夹具之间生成电场,以用于从所述夹具去除所述颗粒。/n
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