[发明专利]用于分析物件的装置及方法有效
| 申请号： | 201880024022.8 | 申请日： | 2018-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN110678737B | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 卡尔·克里斯蒂安·维索;查鲁拉·安德鲁 | 申请（专利权）人： | 沃斯葛莱德有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/35;G01N21/88;G01N21/94;G01N25/72;G01S17/89;G06T7/90;G06T17/05 |
| 代理公司： | 中国商标专利事务所有限公司 11234 | 代理人： | 张立晶 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提出一种用于分析物件的装置及方法，所述物件包含建筑物、建筑环境及/或环境区域。采集物件的图像数据点并进行地理参考以便生成物件数据点。基于光谱特性评估来确定所述物件的性质，例如材料组成、材料状态或材料性质。根据所述光谱特性评估来生成三维物件模型。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 物件 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于分析物件的装置，所述物件包含建筑物、建筑环境及/或环境区域，其特征在于，所述装置包括：/n成像构件(100A-C)，用于检测所述物件的图像数据点；/n指派构件，用于将空间坐标指派给所述相应图像数据点以便获得物件数据点；以及/n确定构件，用于基于所述物件数据点至少确定所述物件的材料性质，其中至少光谱库数据用于所述确定，所述光谱库数据包括对应于物理、构造、化学及/或生物材料性质的材料光谱特性的系综。/n
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