[发明专利]用于测试点焊的相控阵列探头和方法有效

专利信息
申请号: 201880017845.8 申请日: 2018-03-13
公开(公告)号: CN110431412B 公开(公告)日: 2022-06-17
发明(设计)人: 托比亚斯·布鲁赫 申请(专利权)人: 贝克休斯油田作业有限责任公司
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/26
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 王玉玺
地址: 美国得*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于测试结构600上的点焊601的相控阵列探头系统10和方法。所述相控阵列探头包括多个换能器1000并可以包括柔性延迟线1001。将所述相控阵列探头10相对于所述点焊601定位在所述结构600上的第一位置。使用所述相控阵列探头10的至少一个第一换能器701向所述点焊生成并从所述点焊接收第一超声信号1030。处理所述第一接收到的超声信号1030以相对于所述点焊601确定所述结构600上的第二优化位置。使用所述相控阵列探头的第二换能器702在所述第二优化位置处向所述点焊601生成并从所述点焊接收第二超声信号1030。处理所述第二接收到的超声信号1030以确定所述点焊601的特征尺寸(d)。
搜索关键词: 用于 测试 点焊 相控阵 探头 方法
【主权项】:
1.一种用于使用相控阵列探头来测试结构上的点焊的方法,所述方法包括:将所述相控阵列探头相对于所述点焊定位在所述结构上的第一位置;使用所述相控阵列探头的至少一个第一换能器向所述点焊生成第一生成的超声信号并从所述点焊接收第一接收到的超声信号;处理来自所述相控阵列探头的所述至少一个第一换能器的所述第一接收到的超声信号,以相对于所述点焊确定所述结构上的第二优化位置;使用所述相控阵列探头的第二换能器在所述第二优化位置处向所述点焊生成第二生成的超声信号并从述点焊接收第二接收到的超声信号;以及处理来自所述相控阵列探头的所述第二换能器的所述第二接收到的超声信号,以确定所述点焊的特征尺寸。
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