[发明专利]基于光子计数的X射线探测器系统有效
| 申请号： | 201880016121.1 | 申请日： | 2018-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN110383108B | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | 克里斯特·斯文森 | 申请（专利权）人： | 棱镜传感器公司 |
| 主分类号： | G01T1/17 | 分类号： | G01T1/17;A61B6/00;G01T1/24 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 李健;王漪 |
| 地址： | 瑞典斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种X射线探测器系统(1)，包括多个探测器元件(2)，每个探测器元件连接到各自的光子计数通道(4，PCC)，用于提供至少一个光子计数输出；以及读出单元(9)，连接到输出光子计数输出的光子计数通道。该X射线探测器系统(1)的特征是：光子计数通道(4，PCC)的至少一个子集的每一个包括至少两个光子计数子通道(40‑1至40‑M)，每个光子计数子通道提供至少一个光子计数输出，并具有整形滤波器(6)，整形滤波器是被配置为具有不同的整形时间；具有不同整形时间的整形滤波器的光子计数子通道是适用于计数不同能量水平的光子。而且，对于每个光子计数通道(PCC)，读出单元(9)是被配置为从光子计数子通道选择光子计数输出。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光子 计数 射线 探测器 系统 | ||
【主权项】：
1.一种X射线探测器系统(1)，包括多个探测器元件(2)，每个探测器元件连接到各自的光子计数通道(4，PCC)，所述光子计数通道用于提供至少一个光子计数输出；以及读出单元(9)，连接到用于输出所述光子计数输出的所述光子计数通道；其中，所述光子计数通道(4，PCC)的至少一个子集的每一个包括：至少两个光子计数子通道(40)，每个光子计数子通道提供至少一个光子计数输出，并具有整形滤波器(6)，其中所述光子计数子通道的所述整形滤波器是被配置为具有不同的整形时间；其中，每个光子计数子通道包括数量N≥1的比较器(7)，每个比较器具有各自的比较器阈值水平，用于比较所述光子计数子通道的所述整形滤波器的输出信号，以选择性触发相关联的计数器(8)；其中，具有不同整形时间的整形滤波器的所述光子计数子通道是适用于计数不同能量水平的光子；其中，对于在最低能量水平的计数光子，具有较大整形时间的整形滤波器的光子计数子通道是被配置为比具有较小整形时间的整形滤波器的光子计数子通道具有更小的比较器阈值水平；以及其中，对于每个光子计数通道(4，PCC)，所述读出单元(9)是被配置为从所述光子计数子通道选择光子计数输出。
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