[发明专利]抗蚀剂图案形成方法在审
申请号: | 201880014518.7 | 申请日: | 2018-02-21 |
公开(公告)号: | CN110383172A | 公开(公告)日: | 2019-10-25 |
发明(设计)人: | 佐藤信宽 | 申请(专利权)人: | 日本瑞翁株式会社 |
主分类号: | G03F7/012 | 分类号: | G03F7/012;G03F7/20;G03F7/40 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 邵秋雨;刘继富 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的在于提供一种抗蚀剂图案的形成方法,其能够形成剖面具有良好的倒锥形状、且减少了残留水分和残留有机组分的抗蚀剂图案。本发明的抗蚀剂图案形成方法包含下述工序:使用包含能够溶于碱的树脂、交联成分和有机溶剂的树脂液而形成放射线敏感性树脂膜的工序,将上述放射线敏感性树脂膜进行曝光而形成固化膜的工序,将上述固化膜进行显影而形成显影图案的工序,以及对上述显影图案施加显影后烘烤而得到抗蚀剂图案的工序,上述能够溶于碱的树脂包含35质量%以上且90质量%以下的聚乙烯酚树脂,上述显影后烘烤的温度为200℃以上。 | ||
搜索关键词: | 抗蚀剂图案 显影 放射线敏感性树脂 显影图案 固化膜 烘烤 树脂 残留 聚乙烯酚树脂 倒锥形状 有机溶剂 树脂液 施加 曝光 | ||
【主权项】:
1.一种抗蚀剂图案形成方法,其包含下述工序:使用包含能够溶于碱的树脂、交联成分和有机溶剂的树脂液,形成放射线敏感性树脂膜的工序,将所述放射线敏感性树脂膜进行曝光,形成固化膜的工序,将所述固化膜进行显影,形成显影图案的工序,以及对所述显影图案施加显影后烘烤,得到抗蚀剂图案的工序,所述能够溶于碱的树脂包含35质量%以上且90质量%以下的聚乙烯酚树脂,所述显影后烘烤的温度为200℃以上。
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