[发明专利]成型体和其制造方法有效

专利信息
申请号: 201880008041.1 申请日: 2018-01-23
公开(公告)号: CN110177827B 公开(公告)日: 2022-05-03
发明(设计)人: 石塚健太;井上直;坂东晃德;佐藤嘉记 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: C08J5/18 分类号: C08J5/18;B29C55/02;C08F2/44;B29K33/04;B29L11/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 高旭轶;梅黎
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供成型体,其包含树脂,该树脂包含甲基丙烯酸树脂,所述甲基丙烯酸树脂含有:源自甲基丙烯酸酯的结构单元,和源自平均一次粒径为1nm以上且50nm以下并且具有至少一个聚合性官能团的二氧化硅颗粒的结构单元;该成型体的厚度方向的取向度的绝对值为0.02以上,且满足满足要件(I)的成型体;(I)使用脉冲核磁共振测定装置,在150℃下通过固体回波法测定该成型体而得到自由感应衰减曲线(X),在对自由感应衰减曲线(X)使用式(F1)用最小二乘法近似的情况下,自由感应衰减曲线(X)中的自旋‑自旋弛豫时间不同的2种成分的总计成分分数(B+C)为4%以上。
搜索关键词: 成型 制造 方法
【主权项】:
1.成型体,其包含树脂,所述树脂包含甲基丙烯酸树脂,所述甲基丙烯酸树脂含有:源自甲基丙烯酸酯的结构单元,和源自平均一次粒径为1nm以上且50nm以下并且具有至少一个聚合性官能团的二氧化硅颗粒的结构单元;所述成型体的厚度方向的取向度的绝对值为0.02以上,且满足下述要件(I);(I)使用脉冲核磁共振测定装置,在150℃下通过固体回波法测定所述成型体而得到自由感应衰减曲线(X),在对自由感应衰减曲线(X)使用下述式(F1)用最小二乘法近似的情况下,所述自由感应衰减曲线(X)中的自旋‑自旋弛豫时间不同的2种成分的总计成分分数(B+C)为4%以上;M(t)=A×MA(t)+B×exp(‑t/T2B)+C×exp(‑t/T2C)・・・式(F1)式(F1)中,B和C表示所述自由感应衰减曲线(X)中的自旋‑自旋弛豫时间不同的2种成分的各成分分数,T2B和T2C(T2B>T2C)表示所述2种成分中的各自旋‑自旋弛豫时间,t表示衰减时间;A表示使用所述脉冲核磁共振测定装置,在150℃下通过固体回波法另外测定成型体而得到的自由感应衰减曲线(Y)所对应的成分的成分分数,所述成型体包含不含所述源自二氧化硅颗粒的结构单元的甲基丙烯酸聚合物,MA(t)表示所述自由感应衰减曲线(Y)的宏观磁化;作为成分分数的A、B和C分别为相对于A、B和C的总计的各成分的百分数。
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