[实用新型]IC测试机的加热装置有效
申请号: | 201822209171.1 | 申请日: | 2018-12-26 |
公开(公告)号: | CN209640375U | 公开(公告)日: | 2019-11-15 |
发明(设计)人: | 江俊达;詹淙钤 | 申请(专利权)人: | 全宇能科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02 |
代理公司: | 11139 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 孙皓晨;李林<国际申请>=<国际公布>= |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;TW |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本实用新型提供一种IC测试机的加热装置,该加热装置包含有滑轨组以及加热器,该滑轨组分别设置于置物台两侧,加热器连接于滑轨组,并位于置物台上方,使加热器依滑轨组移动至正对于置物台或移动出置物台上方,不需人工进行搬移,减少IC晶片加热的作业时间,以及避免加热装置于搬运时与外物碰撞造成损坏,或倾倒产生危险,以达到降低成本、方便使用的效果。 | ||
搜索关键词: | 滑轨组 加热器 加热装置 置物台 置物 本实用新型 移动 搬移 外物 加热 搬运 倾倒 | ||
【主权项】:
1.一种IC测试机的加热装置,该加热装置包含有滑轨组以及加热器,其特征在于:/n该滑轨组分别设置于置物台两侧,加热器连接于滑轨组,并位于置物台上方,使加热器依滑轨组移动至正对于置物台或移动出置物台上方。/n
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