[实用新型]一种瓦楞纸三维外观缺陷与尺寸检测装置有效

专利信息
申请号: 201822092451.9 申请日: 2018-12-13
公开(公告)号: CN209342589U 公开(公告)日: 2019-09-03
发明(设计)人: 袁斌 申请(专利权)人: 深圳市慧大成智能科技有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/892;G01B11/00
代理公司: 深圳市徽正知识产权代理有限公司 44405 代理人: 卢杏艳
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种瓦楞纸三维外观缺陷与尺寸检测装置,包括上框架、中框架、下框架和触摸屏,且上框架、中框架、下框架依次固定连接,所述触摸屏固定安装在上框架的前端外表面中间位置,所述上框架的内部设置有瓦楞纸正面检测装置,所述下框架的内部设置有瓦楞纸背面检测装置。本实用新型所述的一种瓦楞纸三维外观缺陷与尺寸检测装置,首先,能够一次性测量瓦楞纸的多个面和瓦楞纸的整体尺寸,同时能够计算出瓦楞纸相应的收缩率,检测功能比较全面,并且能够实现瓦楞纸箱的自动检测,无需人力参与,提高了安全系数,减轻了操作人员的劳动强度,而且实现了实时检测,缩短了检测时间,提高工作效率,带来更好的使用前景。
搜索关键词: 瓦楞纸 上框架 尺寸检测装置 外观缺陷 下框架 三维 本实用新型 内部设置 触摸屏 中框架 背面检测装置 正面检测装置 前端外表面 一次性测量 安全系数 工作效率 实时检测 瓦楞纸箱 自动检测 收缩率 检测
【主权项】:
1.一种瓦楞纸三维外观缺陷与尺寸检测装置,包括上框架(1)、中框架(2)、下框架(3)和触摸屏(4),且上框架(1)、中框架(2)、下框架(3)依次固定连接,所述触摸屏(4)固定安装在上框架(1)的前端外表面中间位置,其特征在于:所述上框架(1)的内部设置有瓦楞纸正面检测装置(5),所述下框架(3)的内部设置有瓦楞纸背面检测装置(6)。
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