[实用新型]阵列比吸收率测试设备的校准系统有效

专利信息
申请号: 201821953291.6 申请日: 2018-11-26
公开(公告)号: CN209486278U 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 齐殿元;赵竞;余纵瀛;林军 申请(专利权)人: 中国信息通信研究院
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王天尧;任默闻
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型提供一种阵列比吸收率测试设备的校准系统,包括:信号源装置、偶极子天线和待测阵列比吸收率测试设备;其中,所述信号源装置与所述偶极子天线的射频接口连接,所述偶极子天线与所述待测阵列比吸收率测试设备连接;所述信号源装置用于:产生电磁波信号;所述偶极子天线用于:根据所述电磁波信号产生电场;所述待测阵列比吸收率测试设备用于:测量所述偶极子天线产生电场的场强值,所述场强值用来与预设场强值进行比较确定校准因子。该方案可以实现对阵列比吸收率测试设备进行校准。
搜索关键词: 比吸收率测试 偶极子天线 场强 信号源装置 电磁波信号 电场 校准系统 本实用新型 射频接口 设备连接 校准因子 校准 预设 测量
【主权项】:
1.一种阵列比吸收率测试设备的校准系统,其特征在于,包括:信号源装置、偶极子天线和待测阵列比吸收率测试设备;其中,所述信号源装置与所述偶极子天线的射频接口连接,所述偶极子天线与所述待测阵列比吸收率测试设备连接;所述信号源装置用于:产生电磁波信号;所述偶极子天线用于:根据所述电磁波信号产生电场;所述待测阵列比吸收率测试设备用于:测量所述偶极子天线产生电场的场强值,所述场强值用来与预设场强值进行比较确定校准因子。
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