[实用新型]一种点激光位移传感器测量误差校对的实验装置有效
| 申请号： | 201821891426.0 | 申请日： | 2018-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN208887577U | 公开（公告）日： | 2019-05-21 |
| 发明（设计）人： | 刘万山;张梦迪;林珮汝;张贺翔;卢杰 | 申请（专利权）人： | 厦门大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人： | 马应森 |
| 地址： | 361005 *** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 一种点激光位移传感器测量误差校对的实验装置，涉及点激光位移传感器。实验装置设有激光干涉仪、光路组件、六自由度固定架、点激光位移传感器、正弦规、分度盘、标准量块和数控加工中心，激光干涉仪和光路组件由磁力表架固定在数控加工中心的Z轴和工作台上，Z轴通过数控系统控制进行移动；六自由度固定架安装在数控加工中心的Z轴上，分度盘安装在工作台上，所述正弦规放置在点激光位移传感器正下方的分度盘上，随分度盘进行转角的旋转，入射倾角由正弦规、标准量块搭建，通过调整标准量块的高度达到调整入射倾角大小的目的，通过调整旋转分度盘和六自由度固定架调整入射转角、入射摆角的大小。 | ||
| 搜索关键词： | 激光位移传感器 入射 数控加工中心 标准量块 六自由度 实验装置 分度盘 固定架 正弦规 激光干涉仪 转角 光路组件 校对 测量 旋转分度盘 磁力表架 数控系统 摆角 度盘 移动 | ||
【主权项】：
1.一种点激光位移传感器测量误差校对的实验装置，其特征在于设有激光干涉仪、光路组件、六自由度固定架、点激光位移传感器、正弦规、分度盘、标准量块和数控加工中心；所述激光干涉仪和光路组件由磁力表架固定在数控加工中心的Z轴和工作台上，Z轴通过数控系统控制进行移动；六自由度固定架安装在数控加工中心的Z轴上，分度盘安装在工作台上，所述正弦规放置在点激光位移传感器正下方的分度盘上，随分度盘进行转角的旋转，入射倾角由正弦规、标准量块搭建，通过调整标准量块的高度达到调整入射倾角大小的目的，通过调整旋转分度盘和六自由度固定架调整入射转角、入射摆角的大小。
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