[实用新型]一种可同时测量热电参数和霍尔系数的测量系统有效
| 申请号： | 201821727589.5 | 申请日： | 2018-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN209446504U | 公开（公告）日： | 2019-09-27 |
| 发明（设计）人： | 林凯明;彭成淡;雷勇利;陈子琪;蔡颖锐;陈维涛;张维;聂群;李小平 | 申请（专利权）人： | 武汉嘉仪通科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人： | 张涛 |
| 地址： | 430206 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种可同时测量热电参数和霍尔系数的测量系统，系统包括样品台、测试芯片、待测样品、永磁体、数据采集及测量模块，所述待测样品设置于所述测试芯片中，所述测试芯片位于所述样品台中；所述永磁体位于所述样品台的一侧，用于给所述样品台中的待测样品提供测试磁场；所述数据采集及测量模块通过测试芯片与待测样品电连接，用于给待测样品提供测试电流以及用于测量待测样品的电参数；所述测试芯片包括用于测量待测样品两端温度的温度计以及用于给待测样品其中一端进行加热的加热器。本实用新型将Seebeck系数、电阻率和霍尔系数测量集成到同一个装置上，同一个待测样品的这三个物理量在变温过程中一次测量完成。 | ||
| 搜索关键词： | 待测样品 测试芯片 样品台 霍尔 本实用新型 测量模块 测量热电 测量系统 数据采集 永磁体 物理量 测量 加热器 测试磁场 测试电流 系数测量 一次测量 温度计 电参数 电连接 电阻率 变温 加热 | ||
【主权项】：
1.一种可同时测量热电参数和霍尔系数的测量系统，其特征在于，包括样品台、测试芯片、永磁体、数据采集及测量模块，待测试的待测样品设置于所述测试芯片中，所述测试芯片位于所述样品台中；所述永磁体位于所述样品台的一侧，用于给所述样品台中的待测样品提供测试磁场；所述数据采集及测量模块通过测试芯片与待测样品电连接，用于给待测样品提供测试电流以及用于测量待测样品的电参数；所述测试芯片包括用于测量待测样品两端温度的温度计以及用于给待测样品其中一端进行加热的加热器。
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