[实用新型]一种探针结构有效
| 申请号： | 201821548763.X | 申请日： | 2018-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN209167382U | 公开（公告）日： | 2019-07-26 |
| 发明（设计）人： | 呙昇华 | 申请（专利权）人： | 跃澐科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京汇智英财专利代理事务所(普通合伙) 11301 | 代理人： | 唐轶 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型有关于一种探针结构，用于电子或晶圆业进行导电性测试的探针，由一金属材料制成，主要于一直线状本体的其中一端，制成弯折部，特别是该弯折部的末端为一尖端状；另一相对端则再弯折有一基部；并且，该探针的弯折部表面复合有铑材料层或金材料层，本实用新型具有耐用、使用寿命长、硬度佳等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 弯折部 本实用新型 探针结构 探针 导电性测试 金属材料 表面复合 使用寿命 材料层 尖端状 金材料 相对端 基部 晶圆 弯折 线状 | ||
【主权项】：
1.一种探针结构，由一贵金属材料制成，其特征在于，于一直线状本体的其中一端，制成弯折部，该弯折部的末端为一尖端状；另一相对端则弯折有一基部；该探针本体采用贵金属材料制成，且该弯折部在该贵金属材料表面复合有铑材料层或金材料层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于跃澐科技股份有限公司，未经跃澐科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201821548763.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种电力试验用高压引线辅助牵引装置
- 下一篇：一种驻极体长针测试装置
