[实用新型]热插拔测试装置和系统有效
申请号: | 201821485255.1 | 申请日: | 2018-09-11 |
公开(公告)号: | CN208654782U | 公开(公告)日: | 2019-03-26 |
发明(设计)人: | 李义;上官光华 | 申请(专利权)人: | 北京忆恒创源科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/273 | 分类号: | G06F11/273;G06F11/22 |
代理公司: | 北京卓特专利代理事务所(普通合伙) 11572 | 代理人: | 段宇 |
地址: | 100192 北京市海淀区西小口*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型提供一种热插拔测试装置和系统,涉及测试技术。所述装置包括框架、控制器、被测试设备托架和电机;所述被测试设备托架用于承载待测试设备;所述被测试设备托架与所述电机的动端连接;所述电机的定端与所述框架连接;所述控制器控制所述电机驱动所述被测试设备托架沿直线方向伸出或缩回。采用本实用新型的热插拔测试装置能够实现快速高效的进行热插拔测试,提高测试速度。 | ||
搜索关键词: | 被测试设备 托架 热插拔测试装置 本实用新型 电机 待测试设备 控制器控制 热插拔测试 测试技术 电机驱动 框架连接 控制器 缩回 定端 动端 承载 测试 伸出 | ||
【主权项】:
1.一种热插拔测试装置,其特征在于,包括框架、控制器、被测试设备托架和电机;所述被测试设备托架用于承载待测试设备;所述被测试设备托架与所述电机的动端连接;所述电机的定端与所述框架连接;所述控制器控制所述电机驱动所述被测试设备托架沿直线方向伸出或缩回。
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