[实用新型]一种槽位专用检具有效

专利信息
申请号: 201821223732.7 申请日: 2018-07-31
公开(公告)号: CN208432177U 公开(公告)日: 2019-01-25
发明(设计)人: 陈守志;郑宗斌;陈守胜;詹贤平;王新强 申请(专利权)人: 台州威德隆机械有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B5/24
代理公司: 衢州维创维邦专利代理事务所(普通合伙) 33282 代理人: 程颖丽
地址: 317600 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了一种槽位专用检具,旨在提供一种检测方便、检测精度高的槽位专用检具,其技术方案要点是包括基座,所述基座上设有两个供工件固定的定位柱,基座上还设有若干等距排布的第一测量柱和若干第二测量柱,第一测量柱沿横向阵列排布,第二测量柱也呈横向阵列排布,第一测量柱和第二测量柱之间形成条形结构的检测区,基座上还设有若干等距排布的第一限位柱和若干等距排布的第二限位柱,第一限位柱和第二限位柱对应设置且安装有槽位测量块,第一限位柱和第二限位柱均置于检测区的其中一侧上,本实用新型适用于检具技术领域。
搜索关键词: 限位柱 等距排布 第二测量 第一测量 专用检具 本实用新型 横向阵列 检测区 槽位 排布 种槽 技术方案要点 工件固定 条形结构 定位柱 种检测 检具 柱沿 测量 检测
【主权项】:
1.一种槽位专用检具,包括基座(1),其特征在于:所述基座(1)上设有两个供工件(10)固定的定位柱(2),基座(1)上还设有若干等距排布的第一测量柱(3)和若干第二测量柱(4),第一测量柱(3)沿横向阵列排布,第二测量柱(4)也呈横向阵列排布,第一测量柱(3)和第二测量柱(4)之间形成条形结构的检测区,基座(1)上还设有若干等距排布的第一限位柱(5)和若干等距排布的第二限位柱(6),第一限位柱(5)和第二限位柱(6)对应设置且安装有槽位测量块(7),第一限位柱(5)和第二限位柱(6)均置于检测区的其中一侧上。
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