[实用新型]硅晶电池碎片检测装置有效
| 申请号： | 201820474777.5 | 申请日： | 2018-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN208337511U | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 戴云霄;徐琼;吴群策;沈家麒 | 申请（专利权）人： | 杭州利珀科技有限公司 |
| 主分类号： | H02S50/15 | 分类号： | H02S50/15 |
| 代理公司： | 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 33231 | 代理人： | 胡小龙 |
| 地址： | 311305 浙江省杭州市临安市青山*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种硅晶电池碎片检测装置，包括底座，所述底座上安装设有立柱，所述立柱的下部安装设有光源安装座，所述光源安装座上设有用于照射被测硅晶电池碎片的光源；所述立柱的上方设有用于对所述被检测硅晶电池碎片拍照的相机。本实用新型的硅晶电池碎片检测装置，通过在立柱的上下两侧分别设置相机和光源安装座，光源安装座照射被测硅晶电池碎片底部，以便于相机成像，根据相机成像能够准确检测出被测硅晶电池碎片中的缺陷碎片，具有结构简单和实用性好的优点，能够对硅晶电池碎片进行精确的检测，提高硅晶电池碎片的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 电池碎片 硅晶 光源安装座 立柱 检测装置 本实用新型 相机成像 底座 照射 相机 上下两侧 准确检测 检测 光源 拍照 | ||
【主权项】：
1.一种硅晶电池碎片检测装置，其特征在于：包括底座（1），所述底座（1）上安装设有立柱（4），所述立柱（4）的下部安装设有光源安装座（2a），所述光源安装座（2a）上设有用于照射被测硅晶电池碎片的光源（2）；所述立柱（4）的上方设有用于对所述被检测硅晶电池碎片拍照的相机（5）。
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