[实用新型]高精度幅宽自动化测量装置有效

专利信息
申请号: 201820067903.5 申请日: 2018-01-16
公开(公告)号: CN207946061U 公开(公告)日: 2018-10-09
发明(设计)人: 武宏昌;陈志忠;谭海斌;林飞;高学文;张伟 申请(专利权)人: 深圳精创视觉科技有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市龙华区龙华*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型属于光学检测领域,尤其涉及玻璃及光学膜产业用高精度幅宽自动化测量装置,包括机架以及设置在机架上的测量平台、测量模组、X轴位移模组、控制模组,使用时将待测样品放置在测量平台中,控制模组控制X轴位移模组带动测量模组进行X轴方向位移,测量模组在X轴方向位移过程中完成对测量平台中待测样品的幅宽测量,测量过程不必与待测样品接触,不会对待测样品表面造成划损,能够有效提高玻璃及光学膜等待测样品的品质及使用性能,本实用新型可以实时得到精确的测量结果,自动化程度高,省时省力,人工成本低,节省大量人力物力,测量效率高,能够有效避免传统方式因人工测量导致的测量结果数据一致性差的缺陷,测量精度高,应用前景广阔。
搜索关键词: 测量模组 待测样品 自动化测量装置 本实用新型 方向位移 控制模组 测量 光学膜 幅宽 模组 应用前景广阔 测量精度高 数据一致性 玻璃 测量过程 测量效率 传统方式 幅宽测量 光学检测 人工测量 人工成本 人力物力 使用性能 样品表面 产业用 省时 省力 自动化
【主权项】:
1.一种高精度幅宽自动化测量装置,其特征在于,包括:机架,用于承载设置在其上的模组,所述机架上方设有测量平台,所述测量平台上供承载待测样品;测量模组,架设在所述机架上方,用于对测量平台中的待测样品进行幅宽测量;X轴位移模组,设置在所述机架两侧,用于驱动所述测量模组进行X轴方向位移;控制模组,分别与所述测量模组、X轴位移模组电性连接。
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