[发明专利]宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统及方法有效
| 申请号： | 201811654421.0 | 申请日： | 2018-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN109632748B | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 薛明萱;张云龙;文思成;彭海平;张志永;魏逸丰;许咨宗;汪晓莲 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李坤 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统及方法，其中测量系统包括：制冷机、放射源和PMT测试系统；制冷机包括冷台、低温腔室、温度控制器和温度探头；冷台置于制冷机机体上部，待测晶体样品放置于冷台上，低温腔室罩设在冷台外部；温度控制器用于调整制冷机制冷温度，使冷台温度满足待测晶体样品所需温度；第一温度探头与冷台相连，第二温度探头与待测晶体样品表面相连，第三温度探头与PMT测试系统相连，紧贴在PMT测试系统伸进低温腔室的光阴极玻璃管壁侧面；PMT测试系统的光阴极负责收集待测晶体样品的闪烁荧光，并将收集到的光信号转化为电信号，输出至PC端。本公开中PMT测试系统深入制冷机的低温腔室利于提高荧光收集效率。 | ||
| 搜索关键词： | 温度 范围 放射源 激发 闪烁 晶体 荧光 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统，包括：制冷机，所述制冷机包括：机体；冷台，设置于所述机体上部；待测晶体样品放置于所述冷台上；低温腔室，罩设在所述冷台外部；温度控制器，用于调整所述制冷机的制冷温度，满足所述待测晶体样品所需测试温度；放射源，用于激发所述待测晶体样品闪烁荧光；第一温度探头，与所述冷台相连，探测所述冷台温度；第二温度探头，与所述待测样品相连，探测所述待测晶体样品的表面温度；第三温度探头；PMT测试系统，所述PMT测试系统的光阴极玻璃管壁与所述第三温度探头相连，通过所述第三温度探头探测所述PMT测试系统的温度；所述PMT测试系统的光阴极伸入所述低温腔室，收集待测晶体样品闪烁的荧光，通过所述PMT测试系统将收集荧光的光信号转化为电信号，输出至PC端。
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