[发明专利]一种符合人机工程学的快速取样锥孔检测装置及其检测方法有效
申请号: | 201811651981.0 | 申请日: | 2018-12-31 |
公开(公告)号: | CN109458897B | 公开(公告)日: | 2023-09-19 |
发明(设计)人: | 肖吉军;周清华;欧淑 | 申请(专利权)人: | 桂林电子科技大学 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 | 代理人: | 覃永峰 |
地址: | 541004 广西*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明公开一种符合人机工程学的快速取样锥孔检测装置及其检测方法,所述检测装置包括分层塞规头和中轴,所述分层塞规头包括按照从小到大顺序排列的下层塞规头、中层塞规头和上层塞规头,每个塞规头的上端面均设有垂直于端面的标尺,标尺上标有公差上限指示线和公差下限指示线;每个塞规头的中部均设有轴孔;所述中轴轴体的上端设有卡盖,所述卡盖上设有三个标尺通孔;中轴轴体的下端和轴体上顺序设有下层、中层和上层圆台卡头;所述下层塞规头、中层塞规头和上层塞规头通过轴孔设置在中轴轴体上。这种检测装置可以一次性快速完成锥孔的检测,检测速度快,测量结果准确。 | ||
搜索关键词: | 一种 符合 人机 工程学 快速 取样 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
1.一种符合人机工程学的快速取样锥孔检测装置,其特征在于,包括分层塞规头,所述分层塞规头包括按照从小到大顺序排列的下层塞规头、中层塞规头和上层塞规头,每个塞规头的上端面均设有垂直于端面的标尺,标尺上标有公差上限指示线和公差下限指示线;每个塞规头的中部均设有轴孔;中轴,所述中轴轴体的上端设有卡盖,所述卡盖上设有三个标尺通孔;中轴轴体的下端和轴体上顺序设有下层、中层和上层圆台卡头;所述下层塞规头、中层塞规头和上层塞规头通过轴孔设置在中轴轴体上,其中下层塞规头的下端面与下层圆台卡头靠接,中层塞规头的下端面与中层圆台卡头靠接,上层塞规头的下端面与上层圆台卡头靠接;每个塞规头的标尺分别穿过标尺通孔露出卡盖外。
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