[发明专利]一种用于X光机图像解析度测试体定检的方法及系统有效
| 申请号： | 201811629765.6 | 申请日： | 2018-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109870730B | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 徐卉;张丽君;杨雪琴;邵枭虎;石宇;周祥东;罗代建;程俊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00 |
| 代理公司： | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人： | 杨柳岸 |
| 地址： | 400714 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于X光机图像解析度测试体定检的方法及系统，属于图像解析技术领域。该方法包括以下步骤：S1：测试图像；S2：区域定位；S3：TEST1检测算法测试；S4：TEST2检测算法测试；S5：TEST3检测算法测试；S6：TEST4检测算法测试。本发明拟集成计算机视觉、模式识别前沿理论，研制基于智能图像分析的X光安检机自动定检技术，通过对标准测试箱成像的自动分析，准确、实时、客观地诊断X光安检机的线分辨力、穿透分辨力、空间分辨力、穿透力等性能是否达标，从而给出安检设备是否能够继续正常使用的专家级意见。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 图像 解析度 测试 体定检 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于X光机图像解析度测试体定检的方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：S1：测试图像；S2：区域定位；S3：TEST1检测算法测试；S4：TEST2检测算法测试；S5：TEST3检测算法测试；S6：TEST4检测算法测试。
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