[发明专利]一种单比较器的BLDC控制电路的堵转检测方法及系统有效
| 申请号： | 201811620477.4 | 申请日： | 2018-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109856537B | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 艾纯;谭盼 | 申请（专利权）人： | 神驰机电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/34 | 分类号： | G01R31/34;H02P29/024 |
| 代理公司： | 重庆市前沿专利事务所(普通合伙) 50211 | 代理人： | 郭云 |
| 地址： | 400708 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种单比较器的BLDC控制电路的堵转检测方法及系统。所述堵转检测方法，包含以下步骤：S2，检测位置信号；S3，信号值是否发生变化，若信号值变化了，执行步骤S6，反之执行步骤S8；S6，翻转次数是否大于堵转限次，若翻转次数大于堵转限次，确认产生堵转现象；反之执行步骤S8；S8，检测次数是否小于检测限次，若检测次数小于检测限次，则执行步骤S9，反之则确认产生堵转现象；S9，维持次数是否大于滤波次数；若维持次数大于滤波次数，确认换相，反之，执行步骤S2。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 比较 bldc 控制电路 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种单比较器的BLDC控制电路的堵转检测方法，其特征在于，包含以下步骤：S2，检测位置信号；S3，信号值是否发生变化；判断信号值是否发生变化，若信号值变化了，执行步骤S6，反之执行步骤S8；S6，翻转次数是否大于堵转限次；判断翻转次数是否大于堵转限次，若翻转次数大于堵转限次，确认产生堵转现象；反之执行步骤S8；S8，检测次数是否小于检测限次；判断检测次数是否小于检测限次，若检测次数小于检测限次，则执行步骤S9；反之则确认产生堵转现象；S9，维持次数是否大于滤波次数；判断维持次数是否大于滤波次数，若维持次数大于滤波次数，确认换相；反之，执行步骤S2。
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