[发明专利]机内测试方法、测试装置、及终端设备和存储介质有效
申请号: | 201811619477.2 | 申请日: | 2018-12-28 |
公开(公告)号: | CN109783286B | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 王鹤淇;薛乐堂;王伟国;姜润强;刘阳;刘廷霞;杜璧秀 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 吴乃壮 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请适用于机内测试技术领域,提供了机内测试方法、测试装置、终端设备及存储介质,包括:检测设备的运行状态;根据所检测到的运行状态反馈的信号、与设备预设的特征参量进行对比分析判断是否正常;当判断为故障时,输出预设的故障模式,对所述故障模式进行故障隔离;当判断正常时将顺序执行下一个设备运行状态的检测。本申请了采用了机内测试,不需要使用外接设备,通过机内处理器运行上述测试方法,使得在系统开发时并行开发系统测试性设计,有利于降低成本;缩短开发周期;提高整机性能;有效系统的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 测试 方法 装置 终端设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种机内测试方法,其特征在于:包括:检测设备的运行状态;根据所检测到的运行状态反馈的信号、与设备预设的特征参量进行对比分析判断是否正常;当判断为故障时,输出预设的故障模式,对所述故障模式进行故障隔离;当判断正常时将顺序执行下一个设备运行状态的检测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811619477.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。