[发明专利]检查系统及成像方法在审
| 申请号： | 201811581322.4 | 申请日： | 2018-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN109407162A | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | 许艳伟;孙尚民;喻卫丰;胡煜;宗春光 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 颜镝 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种检查系统及成像方法。检查系统包括：加速器(10)，用于发射射线束(F)；探测器(20)，用于对所述加速器(10)发出的射线束(F)进行接收；和成像装置(30)，与所述探测器(20)信号连接，用于获得被检物体在所述加速器(10)的靶点(T)的高度以上的扫描图像。本公开实施例能够提高被检物体的扫描图像的成像质量。 | ||
| 搜索关键词： | 检查系统 加速器 成像 扫描图像 射线束 探测器 成像装置 信号连接 靶点 发射 | ||
【主权项】：
1.一种检查系统，包括：加速器(10)，用于发射射线束(F)；探测器(20)，用于对所述加速器(10)发出的射线束(F)进行接收；和成像装置(30)，与所述探测器(20)信号连接，用于获得被检物体在所述加速器(10)的靶点(T)的高度以上的扫描图像。
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