[发明专利]半导体器件、成像系统和程序在审

专利信息
申请号: 201811574041.6 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN109963077A 公开(公告)日: 2019-07-02
发明(设计)人: 安田浩司;川口裕史;冢本光一 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: H04N5/232 分类号: H04N5/232;H04N5/225;G01S17/08;B60R11/02
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 李辉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的各实施例涉及半导体器件、成像系统和程序。半导体器件包括:成像时间判定电路,其判定针对相机的成像估计时间;主体判定电路,其在每个预先设定的时间获得包含与相机和对象之间的相对位置有关的信息的距离数据,并且根据基于距离数据来判定主体;移动矢量计算电路,其基于在多个不同时间所获得的距离数据的多个片段来计算主体的移动矢量;以及成像条件判定电路,其计算作为在成像估计时间的相机与主体之间的相对位置的主体位置估计数据,判定在成像估计时间的成像条件,并且根据所判定的成像条件来指示相机在成像估计时间成像。
搜索关键词: 成像 半导体器件 成像条件 距离数据 判定 相机 成像系统 判定电路 移动矢量 时间判定电路 多个片段 估计数据 计算电路 时间成像 时间获得 主体位置
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:主体判定电路,被配置为当允许相机对与所述相机的相对位置改变的对象成像时,在每个预先设定的时间获得包含与所述相对位置有关的信息的距离数据,以及根据触发信号基于所述距离数据来判定主体,以开始用于判定所述相机的所述成像条件的一系列处理;移动矢量计算电路,被配置为基于在多个不同时间所获得的距离数据的多个片段来计算所述主体的所述移动矢量;以及成像条件判定电路,被配置为基于所述移动矢量来计算作为在所述成像估计时间的所述相机与所述主体之间的相对位置的主体位置估计数据,被配置为基于所述主体位置估计数据来判定在所述成像估计时间的所述成像条件,并且被配置为根据所判定的所述成像条件来指示所述相机在所述成像估计时间成像。
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