[发明专利]一种晶体基座返修处理方法和设备在审

专利信息
申请号: 201811565890.5 申请日: 2018-12-20
公开(公告)号: CN109604247A 公开(公告)日: 2019-04-12
发明(设计)人: 刘铭 申请(专利权)人: 珠海鑫汇电子科技有限公司
主分类号: B08B3/08 分类号: B08B3/08
代理公司: 广州容大专利代理事务所(普通合伙) 44326 代理人: 刘新年
地址: 519000 广东省珠*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本发明专利涉及一种晶体基座返修处理方法和设备,该方法利用脱胶溶液对晶体基座表面进行清洗,完成晶体基座的返修。这样,即可完全保护了晶体基座的外形和表面镀层,彻底清洗表面污积,还可节省脱胶溶液,而且操作十分简单、容易,整个作业过程常温造作,避免了传统的高温作业风险,操作安全性极高,还有效提高作业率,返修成本明显降低,大大缓解了制造成本压力,产品市场竞争力强,更易获得商业成功。
搜索关键词: 晶体基座 返修 方法和设备 脱胶溶液 产品市场竞争力 操作安全性 表面镀层 高温作业 清洗表面 商业成功 制造成本 作业过程 传统的 作业率 清洗 缓解
【主权项】:
1.一种晶体基座返修处理方法,其特征在于,利用脱胶溶液对晶体基座表面进行清洗,完成晶体基座的返修。
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