[发明专利]一种晶体基座返修处理方法和设备在审
申请号: | 201811565890.5 | 申请日: | 2018-12-20 |
公开(公告)号: | CN109604247A | 公开(公告)日: | 2019-04-12 |
发明(设计)人: | 刘铭 | 申请(专利权)人: | 珠海鑫汇电子科技有限公司 |
主分类号: | B08B3/08 | 分类号: | B08B3/08 |
代理公司: | 广州容大专利代理事务所(普通合伙) 44326 | 代理人: | 刘新年 |
地址: | 519000 广东省珠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明专利涉及一种晶体基座返修处理方法和设备,该方法利用脱胶溶液对晶体基座表面进行清洗,完成晶体基座的返修。这样,即可完全保护了晶体基座的外形和表面镀层,彻底清洗表面污积,还可节省脱胶溶液,而且操作十分简单、容易,整个作业过程常温造作,避免了传统的高温作业风险,操作安全性极高,还有效提高作业率,返修成本明显降低,大大缓解了制造成本压力,产品市场竞争力强,更易获得商业成功。 | ||
搜索关键词: | 晶体基座 返修 方法和设备 脱胶溶液 产品市场竞争力 操作安全性 表面镀层 高温作业 清洗表面 商业成功 制造成本 作业过程 传统的 作业率 清洗 缓解 | ||
【主权项】:
1.一种晶体基座返修处理方法,其特征在于,利用脱胶溶液对晶体基座表面进行清洗,完成晶体基座的返修。
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