[发明专利]一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法及系统在审
申请号: | 201811561601.4 | 申请日: | 2018-12-20 |
公开(公告)号: | CN109633513A | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | 康宁;王淞宇;袁岩兴;穆晨晨;刘阳;杨金涛;张磊;唐元贵 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
主分类号: | G01R35/02 | 分类号: | G01R35/02 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 付生辉 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法及系统,包括:建立发射天线仿真模型;建立与每种使用的接收天线一一对应的接收天线仿真模型;基于所述发射天线仿真模型和任意一种接收天线仿真模型,确认对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。本发明考虑了设备电磁辐射试验暗室中金属接地平板的影响,同时完全模拟设备电磁辐射试验布置情形,可以实现对设备电磁辐射试验暗室性能的有效分析,并且在设备电磁辐射试验中,对于不同测量频段,使用的测量天线不同,需要考虑实际试验过程中使用的天线类型,能够实现全频段范围内模拟被测设备。 | ||
搜索关键词: | 电磁辐射 暗室 仿真模型 接收天线 试验 发射天线 金属接地平板 被测设备 测量频段 模拟设备 试验过程 天线类型 有效分析 对设备 全频段 天线 测量 | ||
【主权项】:
1.一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法,其特征在于,包括:基于预先建立的金属接地平板仿真模型,通过将测试线缆放置于待确定的设备电磁辐射试验暗室的金属接地平板上,建立发射天线仿真模型;基于待确定的设备电磁辐射试验暗室进行试验时使用的接收天线,建立与每种使用的接收天线一一对应的接收天线仿真模型;基于所述发射天线仿真模型和任意一种接收天线仿真模型,确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
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