[发明专利]基于回波散斑的闭环反馈系统评价方法和装置、光学设备在审
| 申请号： | 201811540560.0 | 申请日： | 2018-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN111324034A | 公开（公告）日： | 2020-06-23 |
| 发明（设计）人： | 李远洋;刘立生;王挺峰;姜振华;孙涛;于湛;宋纪坤 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G05B13/02 | 分类号： | G05B13/02 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 曹卫良 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于回波散斑的闭环反馈系统评价方法和装置、光学设备，所述基于回波散斑的闭环反馈系统评价方法包括步骤：通过对扩展目标的回波散斑进行采样；再通过模糊优化算法对回波散斑反馈因子进行优化，控制发射系统相位项和倾斜项；建立散斑统计特性与聚焦光斑尺寸的单调关系，该方案解决了传统基于回波PIB能量的反馈方法无法实现扩展目标的闭环校正的问题，实现了校正系统的稳定性与收敛性，可以保证较高的闭环校正带宽。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 回波 闭环 反馈 系统 评价 方法 装置 光学 设备 | ||
【主权项】：
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