[发明专利]基于微透镜阵列的多光束光学相干的弹性测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 201811539379.8 申请日: 2018-12-14
公开(公告)号: CN109645954B 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 蓝公仆;陈国杰;许景江;安林;黄燕平;秦嘉;谭海曙 申请(专利权)人: 佛山科学技术学院
主分类号: A61B3/10 分类号: A61B3/10
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 谢泳祥
地址: 528000 广东省佛山市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本发明提供了基于微透镜阵列的多光束光学相干弹性测量系统及方法,采用角膜定位子系统对角膜的激励和测量位置进行定位、采用角膜激励子系统使角膜产生微量的机械波和形变,通过OCT探测子系统对各采样点的机械波和形变进行高精度探测,实现角膜弹性参数的快速测量。所述OCT探测子系统包括宽光谱光源、第一光纤耦合器、第二光纤耦合器组、样品臂、参考臂组以及光谱探测器组,样品臂的每一条光路均设置有相互配合的准直镜和柱镜,各光路在角膜前的位置还设置有微透镜阵列。本发明专利采用微阵列透镜作为关键光学元件,无需如传统OCE一样采用振镜扫描的方式,也无需旋转样品臂,即可同时测量单次载荷激励下样品激励点周围多方向、多位置的弹性响应。
搜索关键词: 基于 透镜 阵列 光束 光学 相干 弹性 测量 系统 方法
【主权项】:
1.基于微透镜阵列的多光束光学相干弹性测量系统,其特征在于:包括OCT探测子系统、载荷激励子系统,所述OCT探测子系统包括宽光谱光源、第一光纤耦合器、多个光纤耦合器组成的光纤耦合器组、样品臂组、参考臂组以及光谱探测器组,其中所述宽光谱光源连接所述第一光纤耦合器的一端,所述第一光纤耦合器的另一端分为多路光纤,并与所述光纤耦合器组中对应的各个光纤耦合器连接,所述光纤耦合器组还连接有所述光谱探测器组,所述光纤耦合器组的另一端分别连接所述参考臂组以及所述样品臂组,从所述参考臂组和所述样品臂组反射回的光经过所述光纤耦合器组后其干涉光谱由光谱探测器组接收,所述样品臂组的每一条光路均设置有相互配合的准直镜和柱镜,各光路在角膜前的位置还设置有微透镜阵列,所述载荷激励子系统用于激励角膜使角膜产生机械波和形变,以便于所述OCT探测子系统探测。
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