[发明专利]精密工件的圆柱度非接触式测量装置及方法在审
申请号: | 201811537110.6 | 申请日: | 2018-12-14 |
公开(公告)号: | CN109579736A | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
发明(设计)人: | 解来运;贾乃勋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 董娜 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明属于圆柱度测量领域,特别是涉及一种精密工件的圆柱度非接触式测量装置及方法,解决现有精密工件圆柱度的测量方法对工件本身造成损伤,表面留有微小划痕,以及误差较大的问题。该装置包括转台和设置在转台侧面的两组柱面自准直仪;所述转台用于固定被测圆柱工件,且被测圆柱工件与转台同轴;每组所述柱面自准直仪包括线光源、分光元件、准直柱面镜及标准柱面镜头;所述线光源的出射光依次经过分光元件、准直柱面镜、标准柱面镜头变为会聚线光束,所述会聚线光束的焦线位于转台的转轴位置;所述会聚线光束经被测圆柱工件表面反射,沿原路返回,经分光元件被光敏感器接收。 | ||
搜索关键词: | 转台 分光元件 精密工件 圆柱工件 线光束 圆柱度 非接触式测量装置 会聚 柱面镜头 自准直仪 线光源 柱面镜 柱面 准直 圆柱度测量 表面反射 光敏感器 原路返回 转轴位置 出射光 划痕 焦线 两组 同轴 损伤 测量 侧面 | ||
【主权项】:
1.一种精密工件的圆柱度非接触式测量装置,其特征在于:包括转台(2)和设置在转台(2)侧面的两组柱面自准直仪;所述转台(2)用于固定被测圆柱工件(1),且被测圆柱工件(1)与转台(2)同轴;每组所述柱面自准直仪包括线光源(7)、分光元件(5)、准直柱面镜(4)及标准柱面镜头(3);所述线光源(7)的出射光依次经过分光元件(5)、准直柱面镜(4)、标准柱面镜头(3)变为会聚线光束,所述会聚线光束的焦线位于转台(2)的转轴位置;所述会聚线光束经被测圆柱工件(1)表面反射,沿原路返回,经分光元件(5)被光敏感器(6)接收。
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