[发明专利]芯片验证系统及方法在审
| 申请号： | 201811527254.3 | 申请日： | 2018-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN109710516A | 公开（公告）日： | 2019-05-03 |
| 发明（设计）人： | 沈旭 | 申请（专利权）人： | 中科曙光信息产业成都有限公司;成都海光集成电路设计有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人： | 赵永刚 |
| 地址： | 610015 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片验证系统及方法。所述系统包括子系统通用验证组件、二次开发IP特定验证组件和第三方IP特定验证组件中的一个或多个，以及测试用例，所述测试用例控制VIP的总线模型分别从待验证设计的收发两端对待验证设计发出激励，同时验证组件配置待验证设计以使其正常工作。本发明能够提高验证效率。 | ||
| 搜索关键词： | 验证组件 验证 芯片验证系统 测试 二次开发 总线模型 第三方 收发 通用 配置 | ||
【主权项】：
1.一种芯片验证系统，其特征在于，所述系统包括子系统通用验证组件、二次开发IP特定验证组件和第三方IP特定验证组件中的一个或多个，以及测试用例，所述测试用例控制VIP的总线模型分别从待验证设计的收发两端对待验证设计发出激励，同时验证组件配置待验证设计以使其正常工作。
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