[发明专利]光学系统、调校光学系统的方法和测序系统在审

专利信息
申请号: 201811516793.7 申请日: 2018-12-12
公开(公告)号: CN111308726A 公开(公告)日: 2020-06-19
发明(设计)人: 齐继芳;周志良;姜泽飞;颜钦 申请(专利权)人: 深圳市真迈生物科技有限公司
主分类号: G02B27/10 分类号: G02B27/10;G02B27/30;G01N21/64
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 黄德海
地址: 518000 广东省深圳市罗湖区清水*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了光学系统、调校光学系统的方法和测序系统。光学系统包括第一光源、第一透镜和分光模组,分光模组包括第一分光器、第二透镜、第一相机和第二相机,第一透镜用于接收来自第一光源的第一光束并使该第一光束准直入射至样品上,以及用于接收来自样品的光束并使该光束准直,第二透镜用于将来自第一透镜的准直光束聚焦至第一相机和第二相机,第一分光器用于将来自第二透镜的聚焦光束分为第二光束和第三光束,第一相机用于接收第二光束,第二相机用于接收第三光束。上述光学系统,基于上述分光光路设计,包括使光束通过第二透镜后,再经过分光器,这样能够使光学系统的总光路长度变短、所需空间减小,有利于光学系统的小型化。
搜索关键词: 光学系统 调校 方法 系统
【主权项】:
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